Współczesna metrologia : zagadnienia wybrane / autorzy Jerzy Barzykowski, Anna Domańska, Małgorzata Kujawińska, Janusz Mroczka, Stanisław Osowski, Zbigniew Polański, Waldemar Tlaga, Danuta Turzeniecka, Wiesław Winiecki. - Wyd. I. - Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2004. - 573, [1] strona : ilustracje ; 24 cm.

Bibliografia przy rozdziałach. Indeks.

8320428882


Pomiar--innowacje.
Pomiar--techniki.
Sieci neuronowe (informatyka).