Matematyczne podstawy metrologii / Janusz Jaworski.
Material type:
TextLanguage: Polish Summary language: English, Russian Publication details: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1979. Edition: Wyd. IDescription: 365, [3] strony : ilustracje ; 25 cmContent type: Tekst Media type: Bez urządzenia pośredniczącego Carrier type: WoluminISBN: 8320400910Subject(s): Pomiar -- matematyka | Pomiar -- modele matematyczne
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Basic collection
|
BUEK Magazyn | 186003 | Available | 1000186003 | ||
|
Basic collection
|
BUEK Magazyn | 196679 | Available | 1000196679 |
Literatura na stronach 356-358. Indeks.
Dla magistrów i inżynierów elektryków oraz elektroników. Mogą z niej korzystać inżynierowie innych kierunków, a także studenci specjalizacji automatyka i metrologia elektryczna wydziałów elektrycznych wyższych uczelni technicznych.
Streszczenie w języku angielski i rosyjskim.
